Jitter and its relatives: A critical overview

2013 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) Pub Date : 2013-05-06 DOI:10.1109/I2MTC.2013.6555592

E. Balestrieri, P. Daponte, L. D. Vito, S. Rapuano

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Abstract

The paper presents a critical overview of the existing jitter terminology carried out as the first step to the required harmonization of the reference literature.

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2013 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)

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