Fatigue des composants électroniques de puissance - Physique de défaillance

Abstract

L'augmentation des champs d'application de l'electronique de puissance conduit a l'emergence de nombreuses evolutions technologiques en correlation avec les niveaux de sollicitations et les contraintes legislatives. De par le caractere securitaire des modules a semi-conducteurs de puissance dans le systeme, il est imperatif de valider la fiabilite de ces nouvelles solutions. Or, les faibles volumes de production et les grandes durees de vie objectivees limitent l'usage de l'approche statistique dans ce domaine technologique. En ce sens, cet article propose d'apprehender l'evaluation de la « fiabilite » en mettant l'accent sur une approche de la physique de defaillances des assemblages de puissance.