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2020 IEEE European Test Symposium (ETS) - 最新文献
Device-Aware Test for Emerging Memories: Enabling Your Test Program for DPPB Level
Pub Date : 2020-05-01 DOI: 10.1109/ETS48528.2020.9131559 Lizhou Wu, M. Fieback, M. Taouil, S. HamdiouiModeling Static Noise Margin for FinFET based SRAM PUFs
Pub Date : 2020-05-01 DOI: 10.1109/ETS48528.2020.9131583 S. Masoumian, G. Selimis, Roel Maes, G. Schrijen, S. Hamdioui, M. TaouilVariation-Aware Defect Characterization at Cell Level
Pub Date : 2020-05-01 DOI: 10.1109/ETS48528.2020.9131600 Zahra Paria Najafi-Haghi, Marzieh Hashemipour-Nazari, H. Wunderlich
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